浅谈电波暗室影响性能指标的因素

2023-11-04 07:25:11 来源：互联网分类：电气知识

　 电波暗室主要用于模拟开放场，是用于测量辐射无线骚扰（EMI）和辐射灵敏度（EMS）的密封屏蔽室。无班房间的大小和射频吸收材料的挑选主要由测试设备（EUT）的外行大小和测试要求（1m方法、3m方法或10m方法）决定。

影响电波暗室性能指标的主要因素包括暗室参数、天线测量偏差。电波暗室的电气系统性能分析指标主要由静态工作区域的特色来表征。静态区域的特性由静态区域的大小、静态区域的反射水平、交叉化、场均匀性、路径损耗、固有雷达截面和工作频率范围来解释。

影响暗室性能指标的因素多种多样、复杂。利用光线辐射法和能量物理定律模拟暗室性能时，需要进行考虑通过无线电波的传输解耦、解耦、标准以及天线的图案主要因素、吸收学习材料技术本身的垂直入射性能和倾斜入射性能、多重反射等影响。

1）交叉化度：暗室结构的不严格要求对称、吸收学习材料对各种社会化波吸收的不一致、暗室测试管理系统等造成暗室传播发展过程当中信息传播国家的现象。当测试天线是正交的，与传输天线的屏幕平行时，如果测试场的强度比小于-25dB，则认为交叉化符合要求。

2）多路径数据损失：路径进行损失分布不均匀时，电磁波的屏幕会旋转，如果我们随后通过旋转待测试波方向的天线，接收控制信号的起伏不高于-0.25 dB，则可以挑选忽略多路径发展损失。

3)场均匀性: 将待测天线在暗室静态区沿轴线移动，波动不高于 -2分贝。在静态区域的截面上，水平和上下移动需要接收信号起伏的测量目标天线，范围在-0.25 dB以下。

2、天线测量错误

1）由于有限的测试距离而造成的错误

要测量的平面天线是沿主光束的轴接收的波。测试距离大小后，被测试天线其他部分接受的字段不可相同，因此有平方根定律相位差。如果要测试的天线位于源天线远区的边界2D 2/处，则相应的口径边缘和相位中心的字段中有22.5度的相位差。如果测试距离增加一倍，相位差就会减少一半。

对于学生测量电波暗室发展中间旁瓣电平的天线，距离2D2/通常是没有足够的。测量的增益约为0.06dB。随着测试距离的缩短，测量偏差会迅速增加，侧襟翼会合并到主梁和肩部桌面，甚至可能成为一个整体.通常，0.25 dB的圆锥销会将测量的增益减少到约0.1 dB，旁瓣附近会出现一些偏差。

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