FLIR ETS320™揭秘：电子元件的纠错武器、传统接触式热测试方法的颠覆者

2025-07-21 14:28:09 来源：互联网分类：工业机械知识

在高新技术飞速发展的时代，电子元件的微型化与高性能要求对传统检测方法提出了挑战。Highland Technology公司通过引入FLIR ETS320™红外热像仪，实现了非接触式高效精准测温，满足了航空航天及科技领域对电子产品的高标准检测需求。

假设有一艘载人飞船正在进行出厂前的验收测试，作为检测师的你，需要为飞船里的一系列精密小巧的电子元件进行快速地检测和维修，而它们发生故障的原因可能是短路，元件损坏，也可能是腐蚀，散热问题……..在有限的时间里，你该如何找到原因并做出及时处理呢?

来自美国旧金山的Highland Technology公司，就经常遇到这样的问题。看着Highland Technology的实验室里这一排排的精密仪表和电子原件，你就可想而知这家公司对电子产品的性能有着多高的要求。

这是一家专门为航空航天和科技领域设计电子产品的一家科技公司，在日常工作中，它们需要经常对产品进行出厂前的验收测试和故障排除。据公司总裁兼首席工程师John Larkin介绍，在这里，如果零件的温度不正常，就会出现过热的问题，而通过热分析原理，就可以找到电子元件的故障之处，而这需要Highland Technology启用一套专为监测电子元件所使用的红外热像仪。

小平台概念，适应电子元件越来越快，越来越小的新要求

以往，实验室测温一般采用热电偶和点温计两种方法。在实践中，这两种方法必须直接接触，不但操作繁琐，而且也给实验数据的精准性带来了局限-------比如只能单点测温，必须固定安装，必须直接等等，造成了对最高点和最低点难以定位。显然，操作方法的落后已然无法适应电子元件的新发展。

据John Larkin介绍，在电子设备热测试中的新环境下，电子元件和印刷电路板(PCB)往往具有速度越来越快、体积越来越小的特色，许多零件为了实现高性能，高速度为目标，甚至采用了皮秒级(万亿分之一秒)的精度，这必将引起传统测量操作方法的革新，实验室电子设备热测试领域亟需新的形象代表。

FLIR ETS320™完美解决了这个问题，它采用恒定的非接触式热测试方法，将高灵敏度热像仪与可调节的免手势式实验台架相结合，消除了接触式测量中的猜测部分，使测试目标稳定地固定在检测仪表下，解放人的双手。

看，只需要如此简单，您就可以在安装距离为70mm时，精准观察40x55mm大小的PCB板，并且焦距绝对不会摇晃和移动，大大提升了测量的准确度。

76000点温度测量，精度高达 ±3°C / ±3%

质量胜在细节，FLIR ETS320™不仅拥有精巧便捷的外观，内部测温数据更是井然有序，精密匹配。FLIR ETS320支持最新版本的ReserachIR 软件，具有强大的红外优势，只需要按下按键即，可获得高于76000个的测温数据。精度高达 ±3°C / ±3%。这些数据可以在产品开发过程当中，达到监控功耗，检测热点，以及识别潜在故障点的作用。

操作简单，第一时间分析出问题所在

FLIR ETS320™的操作方法，极其简单，您只需要借助一体式的测试台和滑动架，就可以达到最佳的灵活性。

首先，在安装方面，它采用电池供电，无需手拿，具有携带自己的三脚架，更方便的是，它在出厂时已经完全组装，您只需简单设置，就可以轻松地进行安装。

值得一提的是，ETS320电池供电的装置可快速、轻松地进行设置，一般来说，在室温下电池可以工作4小时。充满电则需要2.5小时，强大的电池性能，让产品开发人员可以更快速地观察产品的热性能。