半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。

测量频率：10Hz 至 10MHz （SY-8218），10Hz 至 1MHz （SY-8219）

应用波形：正弦波、方波（10Hz~1MHz）

最大输入电流：±6A

最大输入电压：±200V

励磁方法：自动励磁

（最大磁场、最大磁通密度、最大励磁电流、最大感应电压指定）

乘以衰减交变磁场，以免留下残留磁化而减磁

规格

项目规格

磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法最大容许电流±6A

磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法

最大容许电压±200V

数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle）

样品连接方法 2绕线法或1绕线法

显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素

电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX）

尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg

外部存储器 USB（数据存储）

配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）

半导体特性曲线图示仪 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (岩崎),

产品特点

显示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶显示屏

正确测试半导体如IGBTs, MOSFETs, 晶体管和二极管的最佳解决方案

采用电路图模式显示内部的配线状态 (CONFIGURATION), 更好地避免模块测试时的误操作(附图)

WAVE模式: 能确认实际印加电流和电压波形的监察模式 (附图)

可以像示波器一样通过观察模块上实际印加电流和电压的波形来确定脉宽和实际测试点 (Timing)

可通关确认实际波形, 适时调整脉宽和测试点

避免示波器的探棒影响, 可确认实时的异常信号

可非常容易地确认模块发热等引起的振荡等热异常情况

可实现SiC和GaN等器件的电容测试 (选件CS-603A/CS-605A)

可实现晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)

标配LAN和USB接口
与电脑全自动化的完美结合

CS-810半导体参数测试软件 (选件)

通过对主机的远程控制, 可实现各种自动测试的软件. 传统上通过曲线图示仪难以进行的疲劳测试. 加热实验或同时控制恒温箱进行多温度点实验都可使用本软件来实现 (附图)

USB 存储器

图像: 数据和设置条件

格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可选择为黑色或白色, 彩色或单色)

波形数据: 文本文件和二进制文件

远程控制工具

如因保密需要而没法使用USB存储器时, 可以通过安装在PC的远程控制工具进行数据存取

以太网
CS-810控制加热板. 尽管测试需要很长的时间 (如温度测试), 仍可自动执行 (附图)

痠劳测试

在痠劳测试中可以包含各种各样的参数. CS-810 软件支持长时间可靠性测试. 通过曲线图示CS-810监察电压和电流, 那些曲线的区别能被记录下来. 痠劳测试可以实现多种参数的自动测量. 偏置会停止超越电流或电压的限制值并以此设定为下限和上限的极限值. CS-810 软件测量 Ic 或 Vce (区间: 10s 至 2h) 和保持一定的电压或电流 (10s 至 1,000h) (附图)

与探针台共用时, 可实现晶圆测试 (附图)

标准配件

CS-301: CS-3100标配测试台S

CS-302: CS-3200和CS-3300标配测试台M

CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300标配测试台M

CS-304: CS-5400标配测试台M

测试台M专用快装面板: CS系列标配快装面板 (除CS-3100外)

CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400标配测试端口转接夹具

CS-005: CS系列标配标准线套装(除CS-3100外)

CS-006: CS-5400标配20cm高电流电缆 (2条)

CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800标配30cm 高电流电缆 (2条)

LAN接口

USB接口

操作手册
环路校正 测试台的集电极引脚与接地之间的杂散电容由高电压模式下的硬件提供补偿，还可提供数字补偿。

大电流模式（脉冲） -

zui大峰值电流 zui大峰值电压

400 A 40 V

40 A 40 V

zui大峰值电流 zui大峰值电压

1000 A 40 V

400 A 40 V

40 A 40 V

脉冲宽度/测量点 - 脉冲宽度可在50 - 400 μs范围内变化。

可以测量点（分辨率为10 μs/步进）。

数据点上限 每次跟踪可以20 - 1000个点。

阶梯信号发生器

电流模式 幅度范围：50 nA - 200 mA，共21个范围，步进为1-2-5

zui大电流：±2A/偏移：步进幅度设置的±10倍

电压模式 幅度范围：50 mV - 2 V，共6个范围，步进为1-2-5

zui大电压：±40V/偏移：步进幅度设置的±10倍

步进率 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍

（AC模式下为50 Hz或60 Hz） 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍（AC模式下为50 Hz或60 Hz）

脉冲：脉冲变化范围为80ms - 1000 ms。

（zui低频率受zui大峰值功耗设置限制。）

脉冲步进 脉冲宽度可在50μs - 400 μs范围内变化（分辨率为10μs）。
AUX输出

范围 关闭，-40V - +40 V，按100mV分辨率变化

垂直轴

集电极电流 范围 高电压模式：1 μA/div - 2 A/div，共20个范围，步进为1-2-5。

- 高电流模式：100 mA/div - 50 A/div，共9个范围，步进为1-2-5。

高电流模式：100 mA/div - 100 A/div，共10个范围，步进为1-2-5。

精度 2%读数 + 0.05 × VERT/div设置值或更低（下面的内部环路校正错误必须加至左边的公式中。）

3 kV范围：6 μA、300 V 范围：1 μA, 30 V 范围：0.5 μA（仅针对各电压范围面积的10%或以上。）

发射极电流（泄漏） 范围 1 nA/div - 2 mA/div，共20个范围，步进为1-2-5

精度 2%读数+ 0.05 × VERT/div设置值 + 1 nA 或更低

水平轴

集电极电压 范围 高电压模式：50 mV/div - 500 V/div，共13个范围，步进为1-2-5

- 高电流模式：50 mV/div - 5 V/div，共7个范围，切换步进为1-2-5

精度 2%读数 + 0.05 × HORIZ/div 设置值或更高

基极/发射极电压 范围 50 mV/div - 5 V/div，共7个范围，步进为1-2-5
数据保存/读取 内置：存储器（设置：256，REF波形： 4）

外置：移动存储器（连接至USB端口）

（设置、波形保存/再调用、屏幕硬拷贝）

USB 1个端口(USB1.1)

远程控制 通过局域网进行远程控制：1个端口(100BASE-TX)

电源/功耗 电源输入范围：100 - 240 V AC，

50/60 Hz 功耗：500 VA

配件 CS-301（S型测试台）、

CS-500（测试适配器）、

操作手册、

电源线 CS-302（M型测试台）、

CS-500（测试适配器）、

线束、

操作手册、

电源线

机械部分

尺寸(mm) 424 (长) x 555.2 (宽) x 221 (H)（不含外部凸出部分） 424 (长) x 555.2 (宽) x 354.5 (H)

（不含外部凸出部分）

重量 约30 kg（不含选配件） 约45 kg（不含选配件）

环境条件 工作温度：0 - +40 °C、

保证性能温度：+10 - +35 ℃