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数字源表助力工程师提取半导体器件IV电性能参数

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价格面议2024-04-26 13:30:01

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武汉普赛斯仪表有限公司

注册时间:2021-01-25

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半导体分立器件是组成集成电路的基础,包含大量的双端口或三端口器件,如二极管,晶体管,场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V 曲线,来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多,引脚数量和待测参数各不相同,除此以外,新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求,要求测试设备具备更高的低电流测试能力,且能够支持各种功率范围的器件。分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验,帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数,并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。
数字源表助力工程师提取半导体器件IV电性能参数
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数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。

作为数字源表生产厂家,普赛斯仪表自主研发的高精度数字源表,填补国产空白,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,S系列最大输出电压达300V,最小测试电流达100pA,全触摸屏操作,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件,功率器件,传感器,有机材料与纳米材料等特性测试和分析。详询一八一四零六六三四七六;

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