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如今的信息数据化也已经是非常明显的了，大多数的信息都是存储在硬盘当中的，但是对于大多数的公司来讲，他们把这些机密的信息存在硬盘当中，就是为了保证这些资料不会被泄露，同样也需要对他们的资料进行彻底的摧毁，在实际进行销毁的过程当中，可能很多朋友们也都在思考，电子产品销毁公司的硬盘彻底销毁的方法都有哪些？
目前来看，电子产品销毁公司在进行文件销毁的过程当中，完全可以用刀割盘片的方法直接进行销毁，比如他们可以通过这样的一种方式，让整个硬盘全部都给损坏，基本上也就是，摧毁了整个硬盘上的词条，这样的话，一些小的当然还是有可能有机会被读出来的，但是几率并不是特别大。
格式化往往是电子产品销毁公司常用的一种做法了，但是大家要注意的就是，在实际进行销毁的过程当中，必须要保证每一个地方的数据全部都有着重新的低格式化的现象，而且它们可以有效的发挥效果，同样所有的操作系统都有着高价的格式化，数据依然是可以救过来的，基本上都是要进行物理消除的。
另外，电子产品销毁公司同样也可以采用泡水法来进行文件销毁，这样的话就可以粉碎这些硬盘上的一系列的数据，如果是干净水的话，那么可能会被挽回，如果是脏水，硬盘的资料就无法挽回。

电子产品质量检测报告
质量检测是指质量检测机构接受产品生产商或产品用户的委托，综合运用科学方法及专业技术对某种产品的质量、安全、性能、环保等方面进行质量检测，出具质量检测报告，从而评定该种产品是否达到、行业和用户要求的质量、安全、性能及法规等方面的标准。

电子产品失效分析主要分为:
1. PCB/PCBA失效分析
2. 电子元器件失效分析
常见的失效形式有：
爆板、分层、短路、起泡，焊接不良，腐蚀迁移、开路，短路，漏电，功能失效，电参数漂移，非稳定失效等
常用的分析手段：
SEM+EDS分析：利用高能电子束轰击样品表面激发各种信号，可对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察和成分分析。SEM利用背散射电子（BEI）和二次电子（SEI）来成像，EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
断层扫描分析：非破坏性测试，用于检测样品内部结构（金线键合情况、IC层次等）
3D X-RAY分析：非破坏性测试，用于检测PCBA焊接情况、焊点开裂、气泡、桥接、少件、空焊、PTH填锡量等
超声波扫描（C-SAM)分析：利用超声波脉冲检测样品内部的空隙、气泡等缺陷，可用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。
切片（Cross Section）分析：切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法，使内部结构或缺陷暴露出来。
红墨水（Dye＆Pry）分析：适用于验证印刷电路板上BGA及IC的焊接情况。通过观察、分析PCB及IC组件的焊点情况，从而对焊接开裂情况进行判定。
焊点推拉力（Bonding Test）：适用于验证印刷电路板上BGA锡球及小型贴片零件的推力测试，QFP引脚的拉力测试。
芯片开封测试（IC-Decapping）：使用强酸将塑封器件芯片上方的塑料蚀掉，观察芯片金线焊接情况、芯片内部线路情况、芯片表面是否出现EOS/ESD等。
沾锡能力测试：针对SMT电子组件、PCB板进行沾锡能力测试，并通过测试结果对样品沾锡能力进行判定。
离子浓度测试：测试样品溶液的组分和离子浓度﹐常测离子包括﹕F-﹑Cl-﹑NO2-﹑Br-﹑NO3-﹑PO43-、SO42-等。
表面绝缘阻抗（SIR）测试：给电路施加一定电压，通过测试电路的电流大小，来计算出电阻值，并记录电阻值随时间变化情况。根据表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCBA的清洁度。可用于检测助焊剂、清洗剂、锡膏、锡渣还原剂、PCB软板等