品牌NIDEK

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类型：光学仪器

品牌：NIDEK

型FT-17

新旧程度：9成新

设备所在地：广东深圳

设备生产产地：日本

产品数量：1

“NIDEK平坦度测试仪FT-17”的详细描述NIDEK平坦度测试仪制造的平坦度测试仪在国际上享有盛誉，被半导体晶片加工厂家广泛使用。

NIDEK FT-17平坦度测试仪功能简介

lt！--[if ！supportLists]--gt一，lt！--[endif]--gtFT-17是130mm以下各类晶片平坦度测试装置，该装置采用激光斜射干涉技术

lt！--[if ！supportLists]--gt二，lt！--[endif]--gt可设定的干涉条纹。

lt！--[if ！supportLists]--gt三，lt！--[endif]--gt接入标准的解析装置，以表示各类晶片的平面度。测定结果，可用各种测定值，等高线图，俯视图，断面图等图表示。

lt！--[if ！supportLists]--gt四，lt！--[endif]--gt无须校准

lt！--[if ！supportLists]--gt五，lt！--[endif]--gt以专用解析装置控制程序使操作变得容易

NIDEK FT-17平坦度测试仪技术参数

lt！--[if ！supportLists]--gt1，lt！--[endif]--gt测定方法：光波干涉方法（倾斜入射）

lt！--[if ！supportLists]--gt2，lt！--[endif]--gt光源：半导体激光

lt！--[if ！supportLists]--gt3，lt！--[endif]--gt样片尺寸：130mm以下，但是平坦度在100mm以下

lt！--[if ！supportLists]--gt4，lt！--[endif]--gt样片厚度：2000um以下（平坦度测定以下）但是承受台大10mm、其他厚度请以其他方式商谈

lt！--[if ！supportLists]--gt5，lt！--[endif]--gt样片的种类：晶片（硅、化合物、酸化物、玻璃）金属片、磁碟（铝、玻璃）模具等 镜面及非镜面（除反射率低的非镜面）

lt！--[if ！supportLists]--gt6，lt！--[endif]--gt样片的倾斜角度：比垂直向前倾斜8度

lt！--[if ！supportLists]--gt7，lt！--[endif]--gt干涉计设定感度线距

lt！--[if ！supportLists]--gt8，lt！--[endif]--gt测定范围：线距感光的30倍（线距状况、有比镜片尺寸等30倍以下的场合）

lt！--[if ！supportLists]--gt9，lt！--[endif]--gt摄像光学比：3倍以上

lt！--[if ！supportLists]--gt10， lt！--[endif]--gt电源：AC100V