价格面议2023-06-16 11:42:25
产品名称
型号
备注
主机
半导体特性曲线图示仪
CS-3100
3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500
半导体特性曲线图示仪
CS-3200
3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
半导体特性曲线图示仪
CS-3300
3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
测试台
S型测试台
CS-301
CS-3100标配
M型测试台
CS-302
CS-3200 / CS-3300标配
测试适配器
测试适配器
CS-500
主控装置附送1个测试适配器
TO型测试适配器
CS-501
适用于TO型封装（3个引脚）的插口
鳄鱼夹
小型鳄鱼夹（红色） x 10
CS-001
M型测试台选件：CS-302
小型鳄鱼夹（黑色） x 10
CS-002
M型测试台选件：CS-302
软件选件
半导体参数搜索
CS-800
该软件选件需与CS-3000系列配合安装
半导体参数测量
CS-810
主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。
半导体特性曲线图示仪 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (岩崎),
产品特点
显示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶显示屏
正确测试半导体如IGBTs, MOSFETs, 晶体管和二极管的最佳解决方案
采用电路图模式显示内部的配线状态 (CONFIGURATION), 更好地避免模块测试时的误操作(附图)
WAVE模式: 能确认实际印加电流和电压波形的监察模式 (附图)
可以像示波器一样通过观察模块上实际印加电流和电压的波形来确定脉宽和实际测试点 (Timing)
可通关确认实际波形, 适时调整脉宽和测试点
避免示波器的探棒影响, 可确认实时的异常信号
可非常容易地确认模块发热等引起的振荡等热异常情况
可实现SiC和GaN等器件的电容测试 (选件CS-603A/CS-605A)
可实现晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
标配LAN和USB接口
显示屏
8.4英寸亮丽屏可以显示详细的波形情况。采用大尺寸屏幕，可以显示菜单和参数而不影响波形网格。
连接性
CS-3000系列前面板上配有USB端口，方便生成报告。按下复制（Copy）按钮即可将屏幕截图保存到USB设备。
读出显示屏
读出显示屏采用不同颜色代表不同功能，操作设置一目了然。
断路器
前面板上分别提供高电压（所有型号）和高电流（CS-3200/3300）断路器。
菜单操作
使用功能旋钮和功能键来操作菜单。
复制(COPY)按钮
配置(CONFIGURATION)按钮
用于显示连接和信号应用状态。
