价格面议2023-06-11 11:21:22
半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。
日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格)
非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性
zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）
zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）
所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕图像和设置条件）
显示屏
8.4英寸亮丽屏可以显示详细的波形情况。采用大尺寸屏幕，可以显示菜单和参数而不影响波形网格。
连接性
CS-3000系列前面板上配有USB端口，方便生成报告。按下复制（Copy）按钮即可将屏幕截图保存到USB设备。
读出显示屏
读出显示屏采用不同颜色代表不同功能，操作设置一目了然。
断路器
前面板上分别提供高电压（所有型号）和高电流（CS-3200/3300）断路器。
菜单操作
使用功能旋钮和功能键来操作菜单。
复制(COPY)按钮
配置(CONFIGURATION)按钮
用于显示连接和信号应用状态。
