荧光X射线膜厚分析仪(FT110) 镀层厚度分析仪

面议元2023-02-22 01:19:28分享举报

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产品说明：1.即放即测。2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量。3.可无标样测量。4.通过样品整体图像更方便选择测量位置。产品特点：1.?通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。?

2.?微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。?

3.?多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。?

4.?广域观察系统（选配）可从大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。?

5.?对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。?

6.?低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。产品参数：检测器比例计数管X射线源小型空冷式X射线管准直器0.1、0.2mmφ2种样品观察CCD摄像头样品台移动量250（X）×200（Y）mm样品大高度150mm

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