产品名称

型号

备注

主机

半导体特性曲线图示仪

CS-3100

3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3200

3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3300

3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500

测试台

S型测试台

CS-301

CS-3100标配

M型测试台

CS-302

CS-3200 / CS-3300标配

测试适配器

测试适配器

CS-500

主控装置附送1个测试适配器

TO型测试适配器

CS-501

适用于TO型封装（3个引脚）的插口

鳄鱼夹

小型鳄鱼夹（红色） x 10

CS-001

M型测试台选件：CS-302

小型鳄鱼夹（黑色） x 10

CS-002

M型测试台选件：CS-302

软件选件

半导体参数搜索

CS-800

该软件选件需与CS-3000系列配合安装

半导体参数测量

CS-810

主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。

B-H 分析仪 SY-8218 SY-8219 磁性材料分析仪，

精确测量软磁性材料的交流磁特性，直至高频

该装置用于测量软磁性材料的交流磁特性。

非常适合材料、核心、零件和设备制造商的研发、质量保证和制造部门的新产品开发和产品检验。 除了 BH/Pc 测量功能外，还可以测量 m/L/Q。

测量频率：10Hz 至 10MHz （SY-8218），10Hz 至 1MHz （SY-8219）

应用波形：正弦波、方波（10Hz~1MHz）

最大输入电流：±6A

最大输入电压：±200V

励磁方法：自动励磁

（最大磁场、最大磁通密度、最大励磁电流、最大感应电压指定）

乘以衰减交变磁场，以免留下残留磁化而减磁

规格

项目规格

模块或数个芯片, 器件自动切换测试

可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量

测试结果窗口 (附图)

波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图)

产品应用

适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试

电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A)

可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)

静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图)

传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能

器件测试

可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图)

半导体温度特性测试评估
CS-3100 CS-5300 IWATSU CS-5200/3200/3300 岩崎IGBT半导体曲线,

半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)规格

项目 CS-3100 CS-3200 CS-3300

集电极电源

模式 高电压 AC、±全波整流、± DC、±LEAKAGE

大电流 - 脉冲

zui大峰值功率

120 mW、1.2 W、12 W、120 W、390 W

*可以选择390 W（不含3000 V范围下的zui大峰值电压设置）。

- 大电流模式（400 W、4 kW） 大电流模式（400 W、4 kW、10 kW）

高电压模式

zui大峰值电流

（zui大峰值脉冲电流） zui大峰值电压

75 mA (150 mA) 3000 V（2500 V，AC）

750 mA (1.5 A) 300 V

7.5 A (15 A) 30 V
阶梯发生器

使用该旋钮可以设置步进和偏移。

查看/脉冲(VIEW/PULSE)按钮

用于切换跟踪(TRACE)与波形(WAVE)视图。

在波形视图下，屏蔽显示应用电压和电流的时间轴波形，常规曲线跟踪器无法观察到这种波形。

垂直(VERTICAL)和水平(HORIZONTAL)旋钮

这些旋钮安装在易于操作的地方。

变量(VARIABLE)旋钮

用于调节集电极电源的输出电压。

采用耐用型旋钮适合频繁使用。

四、应用说明及功能配置

观察I-V曲线以及电压和电流的应用波形