一、温度：5～40℃；

二、相对湿度：不大于85%；

三、气压：86～106kPa；

四、电源：交流电压220±22V或380±38V 频率50±0.5Hz；

五、周围无强烈振动，无强磁场影响，无腐蚀性气体；

六、无阳光直接照射或其他冷、热源直接辐射；

八、周围无强烈气流，当周围空气需要强制对流时，气流不应直接吹到箱体上。

老化试验箱采用国外先进的加热气流方法，解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷，同时大大提高了试样放置的安全性，有效空间利用率是原转盘式的200%以上，适用于电子元件，橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统，在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机，操作人员设置好程序后，仪器即按程序工作，完毕后自动关机（待机）。

可程式控制器

温湿度控制仪表采用（触摸屏）全进口超大屏幕画面，荧幕操作简单，程式编辑容易。控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示。

具有120组程式12000段999循环步骤的容量，每段时间设定最大值为99小时59分。

资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机。

具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定。

冷冻及风路循环系统

制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。

冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。

采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温湿度分布均匀。

风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温湿度回稳时间快。

升温、降温、加湿系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

最新优化设计,美观大方，做工精细；

对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；

采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；

采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态；

具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确；

多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示；

HAST加速老化试验箱可根据客户产品定制专用产品架；