半导体性能检测设备iv曲线测试仪

实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。半导体性能检测设备iv曲线测试仪就找普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；

普赛斯源表轻松实现二极管特性参数分析
IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一，二极管IV特性主要指正向特性和反向特性等；

普赛斯S系列、P系列源表简化场效应MOS管I-V特性分析
主要参数有输入/输出特性曲线、阈值电压 VGS(th)、漏电流IGSS、IDSS，击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等。

普赛斯数字源表快速、准确进行三极管BJT特性分析