缺水时处置方法

1.当设备缺水时，警示系统会以连续的警示声告知。设备缺水分两种情况：a、机器刚启动，工作时间未开始计时，就水位不足，此种情况机器无法启动；b、工作过程中，水位不足，此时机器会鸣叫警示并切断电热管，温度会慢慢下降，但工作时间还会持续再进行。

2.将水由注水口注入水箱。

3.工作程序会自动继续执行。

PCT试验箱使用说明

1.使用PCT老化试验箱前请详读操作保养手册。

2.建议使用蒸馏水或R.O.水以保护锅体使用安全。

3.使用PCT前请确认关闭手动排气阀门。

4.工作完成后如压力指示器未回到0kg/cm²。开门前请打开手动排气阀排除内锅剩余压力，直到内锅压力回到0kg/cm²。

5.工作完成后将测试物品留置在锅内时间过长，将可能发生锅门无法开启的现象，那是因为冷热空气收缩造成的压差所导致，处理方式很简单，只要打开手动排气阀排除内锅气体，锅门就可打开。

广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

产品特点

1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。

2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。

3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。

4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。

5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。

6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。

7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。

8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。

9. 安全阀，当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压。

10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件，通过重现这些条件，合并成一个循环，并让它自动执行完成循环次数。ZN-P

采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。

通过考核对材料及其防护层的盐雾腐蚀的能力，以及相似防护层的工艺质量比较，同时可考核某些产品抗盐雾腐蚀的能力；该产品造用于零部件、电子元件、金属材料的防护层以及工业产品的盐雾腐蚀试验,根据试验需求可以分为：中性盐雾试验、酸性盐雾试验、铜加速醋酸盐雾试验。

使用注意事项

1、电源设备：应在供电线路中装有超负荷的保险丝装置，供此箱特种，并具有良好接地装置。

2、试料准备：将试品逐一编号后，将试品放置于试品转盘上，彼此以不相互接触和碰撞为宜。

3、待一切准备就绪，即关上箱门。

关闭控制系统各个开关，将电源插扑插上打开电源开关转盘即自动转动，同时控制系统的电源指示灯即亮，若须升温必须打开开关(即高温开关和低温开关)，然后调节全自动控制系统

5、仪器外壳必须有效接地，以保证使用安全。

6、仪器应放在通风良好的室内水平位置，在其周围不可放置易燃易爆物品。

7、应在供电线路中安装铁壳的闸刀开关一只，供此箱特种，在外壳接地通电前请检查本箱的电器性能，并应注意是否有断路或漏电现象,本仪器无防爆装置，不得放入易燃易爆物品干燥。

8、箱内物品放置切勿过挤，必须留出空间，以利热空气循环。

9、非工作人员请匆操作。