半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。

日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格)

非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性

zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）

zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）

所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）

USB接口（保存屏幕图像和设置条件）

磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法最大容许电流±6A

磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法

最大容许电压±200V

数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle）

样品连接方法 2绕线法或1绕线法

显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素

电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX）

尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg

外部存储器 USB（数据存储）

配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）

半导体特性曲线图示仪 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (岩崎),

产品特点

显示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶显示屏

正确测试半导体如IGBTs, MOSFETs, 晶体管和二极管的最佳解决方案

采用电路图模式显示内部的配线状态 (CONFIGURATION), 更好地避免模块测试时的误操作(附图)

WAVE模式: 能确认实际印加电流和电压波形的监察模式 (附图)

可以像示波器一样通过观察模块上实际印加电流和电压的波形来确定脉宽和实际测试点 (Timing)

可通关确认实际波形, 适时调整脉宽和测试点

避免示波器的探棒影响, 可确认实时的异常信号

可非常容易地确认模块发热等引起的振荡等热异常情况

可实现SiC和GaN等器件的电容测试 (选件CS-603A/CS-605A)

可实现晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)

标配LAN和USB接口
产品功能

电子电力元件或器件测试波形特性的功能显示 (附图)

配备选件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可实现电子电力器件如SiC和GaN等的电容测试

在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自动与扫描电容测试

曲线图示仪的测试适配器可用于各种器件封装类型

测试参数包括:

Cies, Ciss (输入电容)

Coss (输出电容)

Cres, Crss (反向传输电容)

Ct (端子间的电容)

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已计算)

Rg (栅极电阻)

可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)

具有外部联锁功能的恒温箱高低温试验

与电脑全自动化的完美结合
与电脑全自动化的完美结合

CS-810半导体参数测试软件 (选件)

通过对主机的远程控制, 可实现各种自动测试的软件. 传统上通过曲线图示仪难以进行的疲劳测试. 加热实验或同时控制恒温箱进行多温度点实验都可使用本软件来实现 (附图)

USB 存储器

图像: 数据和设置条件

格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可选择为黑色或白色, 彩色或单色)

波形数据: 文本文件和二进制文件

远程控制工具

如因保密需要而没法使用USB存储器时, 可以通过安装在PC的远程控制工具进行数据存取

以太网