非晶硒(a-Se)为直接式平板探测器结构，主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电路和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约0.5 mm厚、38 mm×45 mm见方的薄膜，它对X线很敏感，并有很高的图像解析能力 。

顶层电路接高压电源，当有X线入射时，由于高压电源在非晶硒表面形成的电场，它们只能沿电场方向垂直穿过隔层、X射线半导体、电子封闭层，到达非晶硒，不会出现横向偏离从而出现光的散射。非晶硒阵列直接将X射线转变成电信号，记忆在存储电容器里，脉冲控制门电路使薄膜晶体管导通，把记忆在存储电容器里的电荷送达电荷放大器输出，完成光电信号的转换，再经数字转换器转换，形成数字图像输入计算机，并由计算机将该影像还原在监视器上由医生观察监视器直接诊断 。

DR平板探测器维修及故障分析如下：

高压发生器或控制台或者电脑主机无法通讯,造成该故障的原因可能为:量的片状、条状伪影,多次开关机,故障依旧;次日重新开机,再次出现大高压发生器上的板坏;通讯连接线坏;控制台电脑量的片状、条状伪影,不能使用，主机通讯有故障。

据故障现象初步考虑为平板探测器故障,因客户未有平板探测器方面的维修经验及相应维修资拆开高压发生器柜,检查控制通讯的板及连接线,未发现连接线有损坏情况，紧急联系工程师到院进行检修;厂家工程师到院检修后,板上的指示灯亮，但指示灯闪烁,同时发现高压控制板上的指示灯亮,但也未有闪烁，确定为该平板探测器故障,需更换。

因更换平板检测器价格较高,并且该平板探测器在关机停板正常,但未接受到控制讯号，初步考虑决定对该平板探测器进行大胆尝试性维修。经过查连人电脑主机进行通讯的,同时温度控制器度有关系;拆开平板探测器,检查与非拼接大片连接的温度控制部分,故障前后温度恒定，机较长时间后,初步考障可能发生在控制台电脑主机处。

检查电脑主机，考虑该平板探测器未完全损坏,可能为软故障,我科发现高压发生器是通过电脑主机上的口也是通过主机上口与电脑主机进行通迅的。X射线探测器维修，因电脑主机运行基本正常,温度控制及显示也正常,考虑通过对换两串口上的连接线来检测控温正常。

进一步检查平板探测器的相关电路及端口是否正常。将两连接线进行对换并做相应路板也未有发现。大胆拆下温度控制部分及设置修改后,发现有数点水珠,分析水珠产生原因。进行试机,发现温度控制器与主机无法正常连接,高压发生器通讯连接正常,但不能曝光,说明口损坏。

因该电脑主机的口未集成在电脑主板上,而是一个转接口,成探测器图像质量下降,伪影严重的原因,用吹风机将吹干后,在工作台上清洁干净表面的灰尘,小心地将装回探测器,并紧固新的串口转接板进行更换，完成数字平板探测器维修。