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无锡供应高压加速老化试验箱供应商

价格面议2022-03-26 00:05:17

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信息详情

PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

PCT老化箱采用最新优化设计,美观大方,做工精细。

采用大容量水箱,试验时间长,不中断。

采用日本“SHIMAX”智能温控器,具有精度高,控制稳定特点(依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏,USB曲线数据下载功能,和通讯功能)。

广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波,可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。

最佳放置条件

一、温度:5~40℃;

二、相对湿度:不大于85%;

三、气压:86~106kPa;

四、电源:交流电压220±22V或380±38V 频率50±0.5Hz;

五、周围无强烈振动,无强磁场影响,无腐蚀性气体;

六、无阳光直接照射或其他冷、热源直接辐射;

八、周围无强烈气流,当周围空气需要强制对流时,气流不应直接吹到箱体上。

老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。

箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉,可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。

试验架二层,可以自由调节高度

循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中,Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然

自我诊断功能,便于维护

内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护,或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器,它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。

易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验,如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序:

1、 循环A, ASTM B117(NSS)

2、 循环B, Prohesion

3、 循环C,CCT-1

4、 循环D,CCT-IV

5、 循环E,GM9540P/B

6、 循环F,ASTM B368(CASS)

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